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    瀏覽次數:17 | 2021-05-13 15:18:46 | TAG:
    此文關鍵詞:x射線光電子能譜儀

    x射線光電子能譜儀(XPS測試)(變溫)

      

    儀器名稱: x射線光電子能譜儀(XPS測試) 型號: Thermo Scientific
    Escalab 250Xi
    檢測項目: 常規全譜,窄譜,UPS,俄歇譜,價帶譜,深度濺射(刻蝕)
    MAPPING,角分辨,原位,變溫
    應用范圍: 1.定性:元素種類及價態信息
    X-射線光電子能譜(XPS)可以定性檢測元素周期表中除H和He以外的幾乎所有元素;
    2.定量:半定量,屬于表面靈敏型測試,探測深度小于10納米;
    3.成像:元素XPS二維成像,200-800微米范圍。
    制樣要求: 1.粉末測試需要量一般不小于0.2ml或者10mg,樣品需干燥;2.固體樣品尺寸塊狀5*5mm,厚度盡量低于4mm,表面須平整,樣品需干燥;
    3.液體樣須滴在鋁箔或者硅片等載體上烘干形成液膜,一般重復3-5次烘干滴液差不多即可測不到基底;
    4.材料必須是無放射性、無毒性、無揮發性物質(如質Na.,K.
    s.P.Zn.Se.As.1.Te.Hg等):
    5·磁性樣品(可以測試)請送樣時告知;
    6.元素窄譜如果有特殊要求請備注,如果沒有特殊說明,默認測試最強峰,如果最強峰和其他元素的峰有重疊,默認測試次強峰。需要掃特殊峰請備注。
    7.小于1%的元素可能測不出明顯信號;
    8.普通樣品測試一般包括一個全譜和含碳的五個以內單元素精細譜;超過五個元素的按每個元素加收費用;樣品不提供數據分析處理,如需要分析處理加收費用;
    9.其他問題和特殊測試要求可在線溝通。

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