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    瀏覽次數:7 | 2021-05-27 15:25:19 | TAG:
    此文關鍵詞:二次離子飛行時間質譜測試

    二次離子飛行時間質譜測試(TOF-SIMS)

    儀器名稱: 二次離子飛行時間質譜測試(TOF-SIMS) 型號:
     
     
    檢測項目: (1)深度分辨率:幾個納米;
    (2)空間分辨率:<一個微米;
    (3)質量分辨率:m/m5000
    (4)檢測靈敏度:ppmppb;
    (5)絕緣層厚度為幾個微米的樣品質譜分析
    設備性能:  
    應用范圍: (1)樣品組分和雜質元素縱向分布的深度剖析;
    (2)樣品組分和雜質元素面分布的一維線掃描分析;
    (3)樣品組分和雜質元素面分布的離子圖象;
    (4)多層薄膜樣品組分和雜質元素分布及界面情況分析;
    (5)厚度為幾個微米絕緣層樣品的深度剖析
    制樣要求: 粉末樣品50mg即可,塊狀樣品長寬1cm以內,厚度5mm以內。
    如果樣品比較容易氧化或者吸水請提前聯系客服,需要真空封裝好提前預約時間測試。樣品在超高真空下必須穩定,無腐蝕性。建議樣品用干凈玻璃瓶盛裝或鋁箔紙包裝。

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